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    天準半導體紅外測量系統在全球處于頭部地位。系統將高性能紅外相機與設計優化的紅外光學結合，提供具備出色分辨率和對比度的圖像，實現基板的頂部、底部和內部結構的有效測量。

    IRIS MT3000VIS/IR MT2010VIS/IR
    主要特點

    設計優化的整套紅外光學系統，紅外波長最高支持1500nm

    支持定制適用于不同產品的自動化搬運方案 

    可見光和紅外光組合，反射光和透射光組合 

    SECS/GEM

    IRIS
    主要特點

    支持定制適用于不同產品的自動化搬運方案

    可見光和紅外光組合，反射光和透射光組合

    SECS/GEM

    長期維護成本低，穩定可靠

    MT3000VIS/IR
    主要特點

    全自動測量

    可見光和紅外光組合，反射光和透射光組合

    SECS/GEM

    長期維護成本低，穩定可靠

    MT2010VIS/IR
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