平板顯示檢測裝備 - 天準，智能成就工業之美

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Array制程自動光學檢測設備

Array制程自動光學檢測設備采用天準自主開發Virgo軟件平臺和獨有平臺標定技術，適用于Array基板的全制程缺陷檢測，掃描速度快，成像精度高(檢測精度1.0μm/1.5μm可切換)。

品控難點

前段制程是顯示面板制造過程中重要環節，Array面板制程利用AOI檢測技術監控制造過程的外觀缺陷，其檢測精度和效率對產品良率和成本產生重要的影響。外圍電路、不規則區域的檢測困難，成為各顯示工廠Array段品控的難點。

設備優勢

天準獨有的標定平臺技術支持圖像更好拼接，實現分區域檢測，對AA區采用周期對比的方式，對外圍區域采用 Panel to Panel 對比方式

天準自主開發的Virgo軟件平臺支持矩形、圓形、半圓形等異形Map建立

檢測精度1.0μm / 1.5μm可切換

400-885-2280

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